奧林巴斯探傷儀低頻探頭

簡要描述：奧林巴斯探傷儀低頻探頭V154 ，延遲塊改進了工件近表面缺陷的分辨率，可以測量更薄的材料厚度，并能提供更精確的厚度測量結(jié)果。

產(chǎn)品型號：V154-RM
廠商性質(zhì)：代理商
更新時間：2024-12-31
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產(chǎn)品分類

Product classification

工業(yè)無損檢測

磁通計鈷磁儀粘接檢測儀渦流探傷儀磁粉探傷儀超聲波點焊儀超聲波探傷儀超聲波硬度計成像掃描系統(tǒng) 漏磁檢測系統(tǒng) 相控陣探傷儀超聲波顯微鏡電導/磁導率儀超聲波測厚儀超聲波聲速儀水下測厚儀涂層測厚儀工業(yè)內(nèi)窺鏡光譜分析儀探傷儀探頭鈍化檢測儀測厚儀探頭管線探測熱分析儀探地雷達聲學檢測設(shè)備螺栓應(yīng)力測試儀工業(yè)相機洗片機熱電合金分選機 AR視覺質(zhì)量檢查 X射線成像探傷系統(tǒng) 膠接成像檢測儀超聲波脈沖發(fā)生接收器

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詳細介紹

品牌	OLYMPUS/奧林巴斯	價格區(qū)間	1千-1萬
產(chǎn)地類別	進口	應(yīng)用領(lǐng)域	電子/電池,航空航天,電氣,綜合
測量范圍	根據(jù)所選探頭

奧林巴斯探傷儀低頻探頭V154 頻率0.1MHz

角度聲束探頭：

角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以所選的角度將縱波或橫波

發(fā)射到工件中。角度聲束探頭可以對工件中垂直入射接觸式探頭的超聲聲程無法到達的區(qū)域進行檢測。角度

聲束探頭一般用于焊縫檢測，因為如果使用標準接觸式探頭，焊冠會擋住聲波，使聲波無法到達希望檢測的

焊縫區(qū)域，而且一般的缺陷對準操作會使角度聲束產(chǎn)生更強的反射信號。

角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以向被測工件內(nèi)部發(fā)射折射橫波或縱波。

優(yōu)勢

• 三種材料制成的Accupath楔塊在提高了信噪比性能的同時，還表現(xiàn)出的防磨特性。

• 高溫楔塊可對熱材料進行在役檢測。

• 用戶可根據(jù)需要定制楔塊，以得到非標準的折射角度。

• 具有可更換型和整合型兩種結(jié)構(gòu)設(shè)計。

• 具有外形吻合性能。

• 可提供在鋁制材料中獲得標準折射角度的楔塊及整合組件設(shè)計。

應(yīng)用

• 缺陷探測與定量。

• 要了解衍射時差探頭，請參閱第35頁。

• 檢測管道、管件、鍛件、鑄件，機加工部件和結(jié)構(gòu)部件上的焊縫缺陷或裂縫。

袖珍旋入式探頭

• 旋入式設(shè)計，303不銹鋼外殼。

• 不同頻率的探頭顏色不同。

• 兼容于短接近、Accupath、高溫和表面波楔塊。

延遲塊探頭：

延遲塊探頭為單晶寬帶接觸式探頭，其特殊的結(jié)構(gòu)設(shè)計是在探頭晶片前插有塑料或環(huán)氧材料制成的一個薄片。延遲塊改進了工件近表面缺陷的分辨率，可以測量更薄的材料厚度，并能提供更精確的厚度測量結(jié)果。延遲塊可根據(jù)工件的表面幾何形狀緊貼在工件上，而且還可用于高溫應(yīng)用中。

可更換延遲塊探頭是一種單晶接觸式探頭，專門與可更換的延遲塊一起使用。

優(yōu)勢

• 生成可垂直于檢測面?zhèn)鞑サ臋M波。
• 為了方便對齊，橫波極性的方向名義上與直角連接器呈一條直線。
• 縱波與橫波分量的比率一般在-30 dB以下。

應(yīng)用

• 橫波聲速測量。
• 楊氏彈性模量和剪切模量的計算。
• 材料顆粒結(jié)構(gòu)的特性鑒定。

直接接觸式系列

• WC-5防磨板提高了探頭的耐用性和抗磨損的能力。
• 既有標準型，也有指尖外殼型。
• 303不銹鋼外殼。

這種單晶接觸式探頭可在未轉(zhuǎn)換折射波模式的情況下將橫波直接射入到被測工件中。

奧林巴斯探傷儀低頻探頭探頭 V1548 頻率0.1MHz

頻率	標稱晶片尺寸		探頭工件編號
MHz	英寸	毫米	標準外殼	指尖外殼
0.1	1.00	25	V1548	—
0.25	1.00	25	V150-RB	V150-RM
0.5	1.00	25	V151-RB	V151-RM
1.0	1.00	25	V152-RB	V152-RM
1.0	0.50	13	V153-RB	V153-RM
2.25	0.50	13	V154-RB	V154-RM
5	0.50	13	V155-RB	V155-RM
	0.25	6	—	V156-RM
	0.125	3	—	V157-RM